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場發射環境掃描電子顯微鏡
場發射環境掃描電子顯微鏡
場發射環境掃描電子顯微鏡
具有獨特的低真空、環境真空模式,廣泛應用于測試各種材料

設備型號:QUATTRO S


原產地/供應商:美國/THERMO FISHER

主要用途

場發射環境掃描電子顯微鏡具有獨特的低真空、環境真空模式,廣泛應用于測試各種材料,如金屬材料、高分子材料、無機材料(礦物、巖土、甚至含水分材料)等的樣品表面二次電子形貌信息,背散射電子組分區分,能譜元素成分分析。


項目介紹

設備參數/指標

加速電壓:200 V – 30 kV

電子束流:1 pA -200 nA

高真空分辨率:1.0 nmSE30 kV

低真空分辨率:1.3 nmSE30 kV

環境真空分辨率:1.3 nmSE30 kV

最大樣品高度:85 mm

樣品臺傾轉角度:-15° to + 90°

功能配置


高分辨肖特基場發射電子槍

壓差真空系統保護裝置

70mm2電制冷能譜儀

SmartScan智能掃描和圖像導航



樣品要求


結果展示


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