設(shè)備型號(hào)：VEGA3 XMH
原產(chǎn)地/供應(yīng)商：捷克/TESCAN
鎢燈絲掃描電鏡
適用于材料斷口形貌和微觀組織觀察、微區(qū)成分定性和半定量分析等
主要用途
全自動(dòng)鎢燈絲掃描電子顯微鏡具有突出的電子光學(xué)性能，清晰的數(shù)字化圖像，成熟的操作軟件，用戶界面友好等特征，適用于材料斷口形貌和微觀組織觀察、微區(qū)成分定性和半定量分析等。
項(xiàng)目介紹
設(shè)備參數(shù)/指標(biāo)
l 電子束最佳工作距離分辨率：
3 nm @ 30 kV
8 nm @ 3 kV
l 加速電壓：200 V ～30 kV
l EDS探測(cè)器能量分辨率：
Mn Kα保證優(yōu)于127 eV
l 元素分析范圍：Be4～Cf98
l 最大視野：＞50 mm@ 最大工作距離
l 最大樣品高度：147 mm（不能旋轉(zhuǎn)）
106 mm（可旋轉(zhuǎn)）
l 樣品臺(tái)傾轉(zhuǎn)角度：-30° to +90°
功能配置
l ET型二次電子探測(cè)器(YAG晶體)
l 可升縮背散射電子探測(cè)器
l TESCAN專有中間透鏡光束優(yōu)化
l 電子光路和合軸自動(dòng)設(shè)置
l AZtecOne X-Max 20能譜儀
樣品要求
結(jié)果展示
服務(wù)保障
- 我們承諾
服務(wù)質(zhì)量第一時(shí)間反饋專人處理，保證及時(shí)解決問題
- 開具發(fā)票
所有產(chǎn)品均可開具發(fā)票請(qǐng)?jiān)谙聠螘r(shí)選擇填寫
- 平臺(tái)保障
因過失行為導(dǎo)致用戶直接損失,均可享受“平臺(tái)責(zé)任保障”
- 安全保障
服務(wù)質(zhì)量第一時(shí)間反饋專人處理，保證及時(shí)解決問題
檢測(cè)項(xiàng)目
同類檢測(cè)項(xiàng)目
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鎢燈絲掃描電鏡
適用于材料斷口形貌和微觀組織觀察、微區(qū)成分定性和半定量分析等
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場(chǎng)發(fā)射環(huán)境掃描電子顯微鏡
具有獨(dú)特的低真空、環(huán)境真空模式，廣泛應(yīng)用于測(cè)試各種材料
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原位場(chǎng)電子發(fā)射顯微鏡
具有普通掃描電鏡對(duì)材料表面微觀形貌的觀察
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雙束電鏡與飛秒激光聯(lián)用系統(tǒng)
主要用于納微米尺度下的切割、加工，透射樣品制備等工作
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雙束電鏡與二次離子質(zhì)譜聯(lián)用系統(tǒng)
可完成復(fù)雜的納米操作
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聚集離子-電子雙束顯微鏡
用于金屬、半導(dǎo)體等固體樣品上制備微納結(jié)構(gòu)、精確定向制備高質(zhì)量透射電鏡樣品等
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臺(tái)式電子顯微鏡
廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、納米顆粒、生物醫(yī)學(xué)、食品藥品、紡織纖維、地質(zhì)科學(xué)等領(lǐng)域
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超大樣品倉(cāng)掃描電子顯微鏡
主要用于較大樣品的微觀尺度形貌觀察，以及微區(qū)元素分析；配合拉伸臺(tái)，可以進(jìn)行原位觀察
